岛国无码手机在线观看,水蜜桃aⅴ无码专区,果冻传媒在线观看视频,韩国精品一区二区无码视频

康華爾電子有限公司——晶振行業(yè)進口晶振品牌代理商

手機端 手機二維碼 收藏KON微信號 微信號 網(wǎng)站地圖

康華爾電子-中國供應(yīng)商

KONUAER NIHON DEMPA KOGYO CO., LTD.

客戶至上—進口晶振品牌選擇康華爾

全國統(tǒng)一服務(wù)熱線:

86-0755-27838351

晶振帝國
新聞默認(rèn)廣告
當(dāng)前位置首頁 » 進口晶振解決方案 » ILSIMMD振蕩器的可靠性計算

ILSIMMD振蕩器的可靠性計算

返回列表 來源:康華爾 查看手機網(wǎng)址
掃一掃!ILSIMMD振蕩器的可靠性計算掃一掃!
瀏覽:- 發(fā)布日期:2018-11-28 11:02:21【
分享到:

ILSIMMD振蕩器的可靠性計算

半導(dǎo)體元件產(chǎn)品在如今的市場上蒸蒸日上,即使選擇了較高的可靠性元器件還是避免不了發(fā)生故障的可能性,為了產(chǎn)品的整個壽命周期得到完善的運行,工作之前的準(zhǔn)備工作還是得做足,衡量石英晶振元件可靠性的關(guān)鍵指標(biāo)是平均故障間隔時間或MTBF,MTBF越高,設(shè)備的預(yù)期壽命越長,因此設(shè)備越可靠,本文中介紹了ILSI MMDMEMS振蕩器的測試工作過程和預(yù)測MTBF的計算方式.

加速測試:半導(dǎo)體元件的預(yù)測MTBF是時間故障(FIT)速率的倒數(shù),它是在10億個工作小時后統(tǒng)計預(yù)期的故障數(shù),測試設(shè)備10億小時顯然是不現(xiàn)實的,因此常見的方法是在升高的溫度和電壓(老化)下進行加速石英晶體振蕩測試,時間更短,并推斷,ILSI MMD在設(shè)定為工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)溫度125°C的腔室中進行老化測試,然而,由于部件通電時的散熱,在壓力測試期間和操作期間結(jié)溫通常會升高五度,這是表1中的值的因素,由于溫度AFT引起的加速因子遵循Arrhenius關(guān)系,并且使用等式1參考標(biāo)準(zhǔn)操作溫度計算.

ILSIMMD振蕩器的可靠性計算

測試的ILSI MMD振蕩器的標(biāo)稱工作電壓為3.3,壓力測試在電源電壓為3.6伏或高于標(biāo)稱電壓約10%的條件下進行,由電壓AFV引起的加速因子使用公式2計算,參數(shù)如表2所示.

ILSIMMD振蕩器的可靠性計算

LSI MMD振蕩器的結(jié)果:ILSI MMD對數(shù)千個石英振蕩器進行了壓力測試,累計測試時間為3,307,000小時,無故障,使用統(tǒng)計方法,可以使用公式3預(yù)測10億小時后具有一定置信度的故障數(shù),其中n是老化測試的設(shè)備小時數(shù),對于零失敗的90%置信水平,χ2統(tǒng)計值為4.6,插入等式3導(dǎo)致FIT0率為696.3,現(xiàn)在需要使用來自等式12的加速因子校正加速測試條件,調(diào)整后的最終FIT率由等式4給出,使用表1和表2中的值計算上述加速因子和FIT0,ILSI MMD振蕩器的最終FIT:FIT=0.88.

ILSIMMD振蕩器的可靠性計算

MTBFFIT率的倒數(shù),以數(shù)十億小時表示,對于上面計算的FIT,MTBF約為11.4億小時或超過130,000,對于競爭的晶振,這大大超過了報告的MTBF,如圖1所示,結(jié)論ILSIMMD可靠性測試顯示FIT率小于0.9,對應(yīng)于11.4億小時的MTBF,這是石英振蕩器MTBF30,使ILSI MMD MEMS振蕩器成為市場上最可靠的晶振.